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Sendira紅外光譜橢偏儀
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17710506869
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SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶,分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導電膜的電荷載流子濃度。
光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度,折射率,消光系數以及體材料,單層和多層堆疊膜的相關特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內是不透明的,現在也可以進行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團和分子鏈的走向。
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